Le projet EMPIR 19ENV08 AEROMET II a pour but d'améliorer la qualité des mesures effectuées sur les aérosols. Une des tâches consiste à fournir des échantillons de référence pour la mesure par fluorescence X en réflexion totale (TXRF). Ces étalons visent à simuler des prélèvements effectués avec des impacteurs à cascade. Deux types d'échantillons, avec des dépôts de chrome formant des structures annulaires concentriques, ont été préparés, par gravure humide et par méthode additive. Les masses de chrome déposées ont été mesurées en TXRF sur la ligne de métrologie du synchrotron SOLEIL. La comparaison entre les masses nominales issues de la préparation et celles obtenues par TXRF montrent un bon accord pour les échantillons préparés par gravure, mais une grande différence pour les échantillons préparés par méthode additive.

The EMPIR 19ENV08 AEROMET II project aims to improve the quality of measurements made on aerosols. One of the tasks is to provide reference samples for measurements by total reflection X-ray fluorescence (TXRF). These standards aim to simulate samples taken with cascade impactors. Two types of samples, with chromium deposits forming concentric annular structures, were prepared, by wet etching and by additive method. The masses of deposited chromium were measured by TXRF on the metrology beamline of the SOLEIL synchrotron. The comparison between the nominal masses resulting from the preparation and those obtained by TXRF shows a good consistency for the samples prepared by etching, but a large difference for the samples prepared by additive method.