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Release of Nano-objects, their aggregates and agglomerates from Masks (RENAAME): validation of a screening method to identify Ti and Ag elements in masks

F.-X. Ouf (1), S. Chazelet (2), G. Favre (1), N. Feltin (1), V. Lemarinier (1), V. Godefert (1), N. Lambeng (1), J. Mast (3), J. Noireaux (1), C. Oster (1), S. Pacault (2), X. Poisson (1), C. Wouters (3)

1. Laboratoire National de métrologie et d’Essais, Paris, France
2. Institut National de Recherche et de Sécurité, Vandoeuvre-lès-Nancy, France
3. Eléments traces et nanomatériaux, Sciensano, Uccle, Belgique

[2024]

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Résumé

L'objectif du projet RENAAME (RElargage de Nano-objets, leurs Agrégats et Agglomérats (NOAA) depuis les MasquEs), supporté pendant 3 ans par l'ANSES et coordonné par le LNE en partenariat avec l'INRS et SCIENSANO (laboratoire public belge), est de développer une méthodologie d'essais reconnue et validée pour l'identification de la présence de nanomatériaux déclarés ou impliqués dans la fabrication de masques et pour l'évaluation du relargage de ces nanoparticules en phase aérosol. La présente communication détaille les résultats de la première phase du projet qui vise à développer et valider une méthode de « criblage » pour l'identification de la présence des éléments Ti et Ag dans les masques.

Mots clés

nanomatériaux, masques, identification d'éléments

Abstract

The objective of the RENAAME project (Release of Nano-objects, their Aggregates and Agglomerates (NOAA) from Masks), supported for 3 years by ANSES and coordinated by LNE in partnership with INRS and SCIENSANO (Belgian public laboratory) is to develop a recognized and validated testing methodology for identifying the presence of nanomaterials declared or involved in the manufacture of masks and for evaluating the release of these nanoparticles in the aerosol phase. This communication details the results of the first phase of the project, which aims to develop and validate a ?screening? method for identifying the presence of Ti and Ag elements in masks.

Keywords

nanomaterials, masks, identification of elements

DOI

10.25576/ASFERA-CFA2024-38823

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